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IEC60065 마개 소켓 검사자에 의하여, 플러그를 꽂습니다 장비 0-200 Mm 힘 팔이 지시합니다

온도 일어나기를 위한 BS1363 숫자 30 전기 소켓 검사자 시험 마개

증명서를 주는 구경측정을 가진 높은 정밀도 마개 소켓 검사자 UL498 마개 저장소 시험 계기

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플러그 소켓 시험기

(74)

AS/NZS 3112 그림 A1 세 핀 평면 핀 플러그용 크기 확인 도구 플러그 소켓 검사기
채팅

AS/NZS 3112 그림 A1에 따른 차원 검증을 위한 3핀 평면 플러그용 가이드 1.소개 3핀 플래트 핀 플러그용 가이브는AS/NZS 3112그림 A1 및 제2항8.1 & 28.4 & 213.7.1 & 213.7,3핀 플라트핀 플러그와 2핀 플라트핀 플러그의 일상 ... 자세히보기

2025-06-06 14:42:10

IEC60669-1 제20항5.2 그림 13 덮개판 시험장치
채팅

커버 플레이트 시험 장치 1.소개 표지판 테스트 장치는 IEC60884-1 제24항의 요구 사항을 충족합니다.14.2 도 31 및 IEC60669-1 제 20항5.2 피그13. 덮개 또는 덮개판의 제거성을 확인하는 데 사용됩니다. 2.매개 변수 무게 10N*1, 20N... 자세히보기

2025-06-06 14:42:10

소켓 오퍼처의 접촉 깊이 테스트를 위한 접촉 깊이 측정기 AS/NZS3112 그림 3.1
채팅

접촉 깊이 게이지 1. 소개 접촉 깊이 게이지는 AS/NZS3112 그림 3.1 (d) (e) (f) 및 조항 3.3.4에 따라 평핀 및 원형 핀 소켓 구멍의 접촉 깊이 테스트를 위해 설계되었습니다. 그림 3.1 (d) 및 (e)에 따른 게이지는 10A&15A 및 ... 자세히보기

2025-06-06 14:42:09

소켓 오퍼처의 접촉 깊이 테스트를 위한 비접촉 깊이 측정기 AS/NZS3112 그림 3.1
채팅

비접촉 깊이가이브 1.소개 비접촉 깊이 측정기는 AS/NZS3112 도 3.1 (a) (b) (c) 및 3항에 따라 설계됩니다.3평면 스핀과 둥근 스핀의 소켓 오프레셔의 접촉 깊이 테스트를 위해. 그림 3.1 (a) 및 (b) 에 따른 가이즈는 10A&15A 및 20A ... 자세히보기

2025-06-06 14:42:09

측면 스트레인 저항을 검사하기 위한 3 핀 가이드 AS/NZS 3112 그림 3.6
채팅

3개-측면 스트레스의 저항을 검사하기 위한 핀 가이드 1.소개 3핀 가이브는 AS/NZS 3112 도 3.6 및 제 3항에 따라 설계됩니다.14.8.2, 세 개의 핀에 대한 소켓 소켓의 부위 스트레스의 저항을 검사하기 위해. 2.사양 차원 AS/NZS 3112 그림 3... 자세히보기

2025-06-06 14:42:09

측면 변형 저항 확인용 투핀 게이지 AS/NZS 3112 그림 3.7
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두 개-측면 변형 저항 확인을 위한 핀 게이지 1. 소개 두 핀 게이지는 AS/NZS 3112 그림 3.7 및 조항 3.14.8.2에 따라 설계되었으며, 두 핀 소켓 콘센트의 측면 변형에 대한 저항을 확인하기 위한 것입니다. 2. 사양 치수 AS/NZS 3112 그림 ... 자세히보기

2025-06-06 14:42:09

AS/NZS3112 그림 3.10 피드 독립성 테스트 핀 인력 테스트 플러그 소켓 검사기
채팅

각 소켓 콘택트 (AS/NZS3112 그림 3) 에 대한 끌어당기기 힘 테스트를 위한 콘택트 독립성 테스트 핀10 1.소개 접촉 독립성 테스트 핀은 AS/NZS3112 도 3.10 및 제 3항에 따라 설계됩니다.14.8.1, 각 소켓 접촉의 끌어당기 힘의 검사를 위해, ... 자세히보기

2025-06-06 14:42:09

AS/NZS 소켓 소켓의 온도 상승 테스트를 위한 청동 스핀으로 된 시험 플러그
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온도 상승 테스트를 위한 청동 핀을 가진 시험 플러그 소개 구리 핀을 가진 시험 플러그는 AS/NZS 3112 도 2.1 및 제 3항에 따라 설계됩니다.14.5, 소켓 소켓의 온도 상승 테스트를 위해... 자세히보기

2025-06-06 14:42:09

AS/NZS 3112 도 2.10 및 제 2항13.8 온도 상승 테스트에 적합한 핀 클램핑 유닛
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핀 클램핑 유닛s온도 상승 테스트 1.소개 핀 클램핑 단위는 AS/NZS 3112 도 2.10 및 제 2항에 따라 설계됩니다.13.8 플러그 온도 상승 테스트 2.사양 클램핑 유닛 및 클램핑 스크롤의 재료 금속, 금속, 금속, 금속, 금속 양 3 (10A 및 15A 평... 자세히보기

2025-06-06 14:42:09

IEC60884-1 그림 20 코드 유지 테스트용 장치
채팅

IEC60884-1 그림 20 코드 유지 테스트용 장치 1소개 케이블 고정 테스트 장치는 IEC60884-1 제 23.2항 그림 20에 따라 설계되어 케이블 고정 장치에 의해 케이블 고정의 효과를 검사하는 데 사용됩니다.그것은 제거 가능한 플러그에 적용됩니다, 제거 가... 자세히보기

2025-01-07 11:25:55

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