logo
제품 소개손가락 조사를 시험하십시오

Standard Test Finger Probe with 30±0.2 Jointed Point 80±0.2 Length and 180±0.2 Fingertip to Baffle for Accessibility Testing

중국 Pego Electronics (Yi Chun) Company Limited 인증
중국 Pego Electronics (Yi Chun) Company Limited 인증
Je viens de recevoir les doigts d essais, Je suis très satisfait, c est très는 bien

—— ESTI 대형

친애하는 앨리스, 기계는 지금 잘 작동되고 있습니다. 당신의 지원 및 끈기가 당신을 우리의 문제를 해결하고 저희에게 교섭에 있는 아주 유용한 제안을 주도록 감사하십시오. 진짜로 좋은 협력.

—— TUV 라인지방 Pvt. 주식 회사

친애하는 Penny, 우리는 좋은 품질 amd 쉬운 가동으로 수년 동안 Pego 그룹에서 사기에 진짜로, 모든 제품 옵니다 평가합니다.

—— 제한되는 LIA 실험실

나는 봄 망치를, 그들 중대합니다 받았습니다!

—— BSH 그룹

그렇습니다 우리는 그(것)들 같이 조사 그리고 우리의 엔지니어를 얻었습니다. 감사합니다.

—— 감마 조명 Pty 주식 회사

봄 망치는 좋은과 일 벌금에 봅니다

—— 시그마 연결성

이것은 호평을 받습니다 계속 순서를 확인하기 위한 것이고 모두는 좋은 순서에 있습니다. 나는 당신의 아주 전문적인 업무를 당신을 감사하. 이것은 계속 유쾌한 거래입니다.

—— Gallagher 그룹

2019년 1월빠른배송 감사합니다.

—— 유진코퍼에 황동익입니다.

나는 당신이 우리가 교정 인증서와 2척 선박을 받는 것을 알게 하기 위해 이 이메일을 보내고 있습니다. 선박의 질을 위해 그리고 당신의 자선을 위해 당신에게 감사하고 싶습니다. 나는 다른 주제에 당신과 함께 일하는 것을 기다릴 수 없습니다.

—— 브란트 프랑스

우리는 그것이 매우 잘 작동하는 것을 확인할 수 있습니다! 좋은 품질의 장비에 대해 감사합니다.

—— PPC (그리스)

제가 지금 온라인 채팅 해요

Standard Test Finger Probe with 30±0.2 Jointed Point 80±0.2 Length and 180±0.2 Fingertip to Baffle for Accessibility Testing

Standard Test Finger Probe with 30±0.2 Jointed Point 80±0.2 Length and 180±0.2 Fingertip to Baffle for Accessibility Testing
Standard Test Finger Probe with 30±0.2 Jointed Point 80±0.2 Length and 180±0.2 Fingertip to Baffle for Accessibility Testing

큰 이미지 :  Standard Test Finger Probe with 30±0.2 Jointed Point 80±0.2 Length and 180±0.2 Fingertip to Baffle for Accessibility Testing

제품 상세 정보:
원래 장소: 중국
브랜드 이름: Pego Electronics
인증: Third-Lab Calibration Certificate
모델 번호: PG-TPB
결제 및 배송 조건:
최소 주문 수량: 1 세트
가격: 협상 가능
포장 세부 사항: 보호 케이스+상자
배달 시간: 3 영업일
지불 조건: T/T, PayPal
공급 능력: 1000pc/월
상세 제품 설명
표준을 준수: IEC61032, IEC60601, IEC62368-1, IEC60598-1, IEC60529 재료: inssluating atters (Hanndle) 및 금속 (손가락)
리드 타임: 3 영업일 애플리케이션: 위험한 부품에 대한 접근성을 확인합니다
유형: 접근 탐사선 스러스터: 0N-50N
강조하다:

30±0.2 Jointed Point Test Finger Probe

,

80±0.2 Length Standard Test Finger

,

180±0.2 Fingertip to Baffle Jointed Test Finger

Insulating Material Standard Test Finger for Accessibility Test Thruster 0N-50N
Standard Test Finger for Accessibility Test
Introduction
The Standard Test Finger, also known as jointed test finger or test probe B, simulates human fingers to verify accessibility to hazardous parts in electrical and electronic devices. This essential testing tool is widely referenced in standards including IEC60335-1, IEC62368-1, and IEC60598-1.
Designed in strict compliance with IEC61032 Figure 2, the probe features an insulating handle and metal finger. The built-in 0-50N thruster accommodates required test forces of 10N and 30N. An integrated wire connects to an electrical indicator to detect accessibility of hazardous live parts.
Specification
Model PG-TPB
Jointed point size 1 30±0.2
Jointed point size 2 60±0.2
Length of finger 80±0.2
Fingertip to baffle size 180±0.2
Fingertip taper fillet S4±0.05
Diameter of finger Ф12 0 -0.05
Diameter of baffle Ф75±0.2
Thickness of baffle 5±0.5
A-A section diameter Ф50
A-A section width Ф20±0.2
Thruster 10N optional
Standard IEC61032
Standard Test Finger Probe with 30±0.2 Jointed Point 80±0.2 Length and 180±0.2 Fingertip to Baffle for Accessibility Testing 0

연락처 세부 사항
Pego Electronics (Yi Chun) Company Limited

담당자: Ms. Penny Peng

전화 번호: +86-18979554054

팩스: 86--4008266163-29929

회사에 직접 문의 보내기 (0 / 3000)