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고 정밀 스탠 테스트 손가락 탐사기 C 3 뉴턴 추진기 IP3X 테스트에 적용
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새로운 Conditon IEC60335 긴 시험 조사 장비 단열재 손잡이 1 년 보장
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IEC61032 Standard Test Finger Probe with 0~50N Force for IP2X Testing and Long Lifespan
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Delrin/스테인리스 물자 걸이 조사 검사자 Unjointed 새로운 Conditon IEC60601
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EV 커넥터 테스트 장비 IEC 62196 42V 전기 표시기와 함께 테스트 손가락 탐사 B
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Accessability 조사 유형 간결 테이퍼 원뿔 시험 Pin Φ3~4 길이 15 IEC61032
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조사 41를 따릅니다 CNAS 증명서에 IEC61032와 IEC60065에 시험하십시오
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IEC61010-1 제6항2.1 B 부록 B.1 그림 딱딱한 손가락 탐사 금속 및 나일론 구조
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표준 시험 손가락 탐사 30±0.2 관절점 80±0.2 길이와 180±0.2 접근성 테스트를 위해 바프로 손가락 끝
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45V 보장된 IEC61010-1 제6항2.2 그림 B.2 높은 수준의 보증으로 결합된 손가락 탐사
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